SU7000是一臺實現了獲取大量信息的新型掃描電鏡，可以滿足客戶的多種觀察需求。
接下來請欣賞SU7000帶來的多彩世界。
*圖為包含選配項的SU7000示意圖
Hitachi日立場發(fā)射掃描電鏡SU7000核心理念：
1.采用優(yōu)的成像技術
SU7000可以迅速獲取從大視野全貌圖到表面微細結構等多種檢測信號。全新設計的電子光學系統和檢測系統，使得裝置可以同時接收二次電子和背散射電子等信號，用戶可以在短時間內獲得更的樣品信息。
2.采用多通道成像技術
隨著用戶對成像需求的不斷增長，SU7000特新增了幾種探測器，還引進了相應的成像功能。SU7000多可同時顯示和保存6通道信號。實現了獲得樣品信息的更大化。
3.支持不同形狀樣品、多種觀察方法
大型樣品觀察
低真空觀察
低溫觀察
實時觀察
等所需的樣品倉和真空系統都十分完備，觀察方法也是一應俱全。
4.支持微納解析
采用肖特基發(fā)射電子槍，大束流可達到200 nA，適用于各種微納解析。樣品倉形狀和接口設置支持EDX分析、EBSD、熒光分析等，接口設備可通過選配附件滿足多種特殊需求。
Hitachi日立場發(fā)射掃描電鏡SU7000規(guī)格：
|
項目 |
內容 |
||
|
圖像分辨率 |
二次電子分辨率 |
0.8 nm/15 kV |
|
|
0.9 nm/1 kV |
|||
|
放大倍率 |
20～2,000,000 x |
||
|
電子槍 |
發(fā)射體 |
ZrO/W熱場發(fā)射（肖特基熱場發(fā)射） |
|
|
加速電壓 |
0.1～30 kV （步進：0.01 kV） |
||
|
束流 |
大200 nA |
||
|
探測器 |
標準探測器 |
UD （上探測器) |
|
|
MD （中探測器） |
|||
|
LD （下探測器) |
|||
|
選配探測器*1 |
PD-BSED (半導體式背散射電子探測器） |
||
|
UVD（高靈敏度低真空探測器 ） |
|||
|
低真空模式*1 |
樣品倉壓力范圍 |
5～300 Pa |
|
|
可使用探測器 |
PD-BSED, UVD, UD, MD, LD |
||
|
馬達臺 |
馬達臺控制 |
5軸馬達驅動 |
|
|
移動范圍 |
X |
0～135 mm |
|
|
Y |
0～100 mm |
||
|
Z（WD） |
1.5～40 mm |
||
|
T（傾斜角） |
-5～70° |
||
|
R（旋轉角） |
360° |
||
|
樣品尺寸 |
大直徑：φ200 mm, 大高度：80 mm |
||
|
顯示器*1 |
23英寸LCD （1,920×1,080）, 支持雙屏 |
||
|
圖像顯示模式 |
全屏顯示模式 |
1,280×960像素顯示 |
|
|
單屏顯示模式 |
800×600像素顯示 |
||
|
雙屏顯示模式 |
800×600像素顯示、1,280×960像素顯示 *2 |
||
|
四屏顯示模式 |
640×480像素顯示 |
||
|
六屏顯示模式*2 |
640×480像素顯示 *2 |
||
|
圖像數據保存 |
保存圖像尺寸 |
640×480、1,280×960、2,560×1,920、5,120×3,840、10,240×7,680 |
|
|
選配附件 |
能譜儀（EDX） |
||
|
X射線波譜儀（WDX） |
|||
|
電子背散射衍射（EBSD） |
|||
|
陰熒光探測器（CL) |
|||
|
冷凍傳輸系統 |
|||
|
各種功能樣品臺 |
|||
*1為選配項。
*2支持雙屏顯示。
